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全光谱椭偏仪

全光谱椭偏仪

● 桌上型膜厚量测设备

● 安装移动迅速便捷

● 适用于所有非金属膜质

● 多样化的应用选择

● 工业标准数据端口

  • 产品型号:SE-RD-STD系列
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-03-12
  • 访  问  量:114
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联系电话:17717527838

详细介绍
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域化工,电子

全光谱椭偏仪——

● 桌上型膜厚量测设备


● 安装移动迅速便捷


● 适用于所有非金属膜质


● 多样化的应用选择


● 工业标准数据端口


全光谱椭偏仪——

规格

技术指标

衬底类型

透明或半透明衬底

光源

氙灯

光源寿命

>8760H

光谱范围

300-1000nm

入射角

70度(40-90度 每5度可调)

光斑直径

100x120μm(Min80x100um)

测量时间(不对焦)

<2S(单层模型),<6s(多层模型)

膜厚测量范围(单层膜)

1nm-15μm

对焦

自动讯号对焦

膜厚测量精度

<0.5nm(基于标片)

折射率测量精度

<0.005(基于标片)

厚度重复性精度:

<0.5A1 sigma 标准差,10times)(基于标准片)

折射率重复性精度:

<0.00051 sigma标准差,10times)(基于标准片)

可测试膜层数量

2

标片数量

2







无锡浩辉者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的经验及对检测设备及技术的研发与应用,为客户提供材料检测分析仪器及方法。让客户深入了解全面的分析技术,以及其性能限制,为客户的分析需求选择适合的分析仪器。与此同时,我们会帮助辅导客户完成整个分析过程,得到客户所需要的答案及结果。也可依顾客需求,提供完整专业的系统解决方案。目前服务于各大专院校、研究机构、产业界研发单位和具备自主研发能力的大型企业,期望对国内外的科研及产业尽一份心力。

无锡浩辉者科技在过去服务对象中,成功建立了原位分析模式,如温度、压力与电位等之检测分析平台,用以了解相关材料在实际应用操作下的物理化学特性。包含扫描探针显微镜、光学显微镜用以进行材料之表面型态以及表面物理特性分析;显微三维扫描共轭焦拉曼光谱、显微红外光分析仪、X射线绕射仪用以进行材料之键结型态、官能基型态以及晶体结构状态分析;X射线荧光分析仪用以进行成分原素组成比例分析;热重分析串接红外光谱与气相层析质谱仪用以辨别化学结构物质之比例组成,透过不同温度之热裂解更可进一步了解材料内部之相关添加物质,并结合键结型态、官能基型态以及晶体结构状态可进一步推广至逆向工程检测服务平台。透过浩辉者科技的材料检测分析与逆向工程分析仪器技术平台,可得知各种材料的完整物理化学特性,并建立完整的材料认证体系。

由于科技不断的创新进步,浩辉者也在积极地寻找并开发*的光谱&影像关键技术及All-in-one多功能产品提供给顾客,公司所有同仁更努力不懈求创新、求进步,期望能提供顾客优质的服务及质量,并在未来与顾客共同成长茁壮。


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